新型的NI PXI Semiconductor Suite针对芯片测试应用扩展了测量功能

图1. NI PXI Semiconductor Suite包含新型的直流、数字、射频和开关仪器，并支持文件导入。

高精度直流仪器

　　参数测量对半导体元件验证或定型是至关重要的，它需要用非常精准的直流仪器**测量出设备的待机电流或漏电流。PXI Semiconductor Suite通过加入新型的SMU满足了这些需求。NI PXI-4132高精度SMU的电流分辨率**可至10pA，同时拥有4线感知、单端输出的外部监测及为单PXI插槽提供±100 V电压的能力。SMU具备下列优势，包含板载的硬件序列引擎用于硬件时序的高速曲线和在PXI基板上触发和同步多个PXI-4132 SMU的功能。PXI-4132对现有的NI PXI-4130电源SMU进行了补充，提供了4象限40W输出(±20 V, ±2 A)，为PXI实现了高精度和高功率电源测量选项。

高级别高速数字功能

　　数字仪器是半导体测试系统中另一个至关重要的部分，它可以帮助对数字接口的功能和参数进行定型，同时利用常见通信协议(包括SPI和I2C等)控制芯片的操作。新型套件添加了几种具有高级别高速数字功能的新型产品。NI PXIe-6544和NI PXIe-6545模块分别为PXI Express添加了100MHz和200MHz的数字I/O，拥有高达32条电压为1.2 ― 3.3 V的通道，同时具有subhertz精度的精密板载时钟。NI PXIe-6547和NI PXIe-6548模块实现了额外的功能，它们提供每条通道每个周期的双向通信功能；采集数据与预期响应的实时位比较功能；高达400Mbits/s的双倍数据速率(DDR)功能；3bank的数据延时，这样工程师们可以在一台仪器上对多个数字I/O线路进行相互间的延时，以强化芯片内的时序。

　　PXI Semiconductor Suite还包含了**款NI高速数字信号插入开关，这样工程师们可以在32条数字I/O线路上复用多个直流仪器，如新型的PXI-4132 SMU、数字万用表(DMM)、电源等。NI PXI/PXIe-2515开关是新型PXI Express数字I/O模块或现有NI 654x或NI 655x数字仪器的接口，利用对任意管脚的直连特性提供对每个管脚的电流测量。

　　半导体测试中的许多应用还需要具备从通用设计工具中导入数字模拟测试向量的功能。作为新套件的一部分，NI与National Instruments Alliance Partner Test System Strategies Inc. (TSSI)进行合作，该公司是电子设计自动化(EDA)样式转化领域的**者，开发出新型的软件产品，名称为TSSI TD-Scan for National Instruments，这样工程师们可以将WGL和STIL矢量模式导入到PXI中。该软件工具可以从TSSI公司买到，同时以30天评估版的形式包含在NI高速数字I/O PXI硬件中。

更快的射频测量时间

　　测试高速射频元件可能会非常耗时，因为需要对多种频率进行扫描以完全确定芯片的性能。新型NI PXIe-5663E 6.6GHz矢量数字分析仪(VSA)和NI PXEe-5673E 6.6GHz矢量信号发生器(VSG)有着**的调谐时间，利用射频列表模式使多频率的射频测量更快。利用确定的频率调整和功率调整，这些模块特别适合测试无线和混合信号IC芯片，如功率放大器和收发器等。

　　　表1. 这10种新型的产品对测量功能进行了扩展，为现有的NI PXI仪器添加了特性。

软件定义型半导体芯片测试

　　使用LabVIEW的软件定义型仪器，为半导体测试工程师们提供了**个性化测量和构建高性能自动化测试系统的优势。PXI模块化硬件帮助工程师们集成**的PC技术，如多核心和PCI Express等，以进一步减少测试时间。PXI Semiconductor Suite的加入，将PXI和LabVIEW的功能扩展到开发针对各种半导体元件的更强劲平台，这些元件包括模数转换器(ADC)、数模转换器(DAC)、电源管理IC(PMIC)、无线IC(RFIC)和微机电系统(MEMS)元件等。